在追求品质今天,每一个制造细节都至关重要。特别是在半导体行业,散热片的精准测量更是关乎产品性能与可靠性的关键环节。在此为大家分享尼康VMZS3020全自动影像测量仪是如何助力实现散热片精密测量的应用案例。
当下各个半导体企业致力于技术创新与品质提升。散热片作为其产品中不可或缺的一部分,其尺寸精度和平面度直接影响着产品的散热效率和稳定性。为了进一步提升产品质量,决定引入尼康VMZS3020全自动影像测量仪对散热片进行***、高精度的检测。
▲尼康VMZS3020全自动影像测量仪
针对上述的测量需求,我司提供定制了一套光学测量技术解决方案。该方案采用尼康VMZS3020全自动影像测量仪,结合专业的测量软件和算法,能够实现对散热片的高精度、***率测量。
▲散热片(测量样品)
1、测量设备参数:我们的测量设备具备高精度、高稳定性的特点,能够满足对散热片微小尺寸变化的精准捕捉。
2、测量方法与步骤:
3、重复性测量:在同一位置重复测量5遍,***偏差仅为1.4um,充分证明了测量结果的稳定性和可靠性。
4、标准尺与标准块验证:使用标准尺在台面上5个不同位置进行测量,***偏差0.4um;同一位置重复测量标准块宽度和高度,***偏差分别不超过0.2um和0.3um,进一步验证了测量系统的准确性和一致性。
通过采用我们的光学测量技术解决方案,可以成功实现了、对散热片的高精度测量。单次测量时间仅需51秒,大大提高了生产效率。同时,测量结果的准确性和稳定性也得到了显著提升,为产品质量把控提供了有力支持。
未来,我们将继续致力于光学测量技术的研发与创新,为更多行业提供更加***、精准的测量解决方案。
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